Работает заместителем заведующего кафедрой нанометрологии ЦКП МФТИ.
Разрабатывает методики измерений и средства контроля точности компонентов наносистем для оборудования из разных областей нанотехнологий.
«Вся цивилизация в настоящий момент построена на технологиях массового производства, предполагающего сборку машин, самолетов, телефонов из стандартизованных деталей и компонентов, которые могут производиться как в соседнем цехе, так и на другом конце света. Основной фактор, позволяющий осуществить сборку ракеты и успешный запуск, — это то, что все отдельные детали изготовлены точно в пределах заложенных допусков. А теперь появились нанотехнологии. Полезные свойства наносистем очень сильно зависят от характерных размеров их компонентов, и эти параметры необходимо тщательно контролировать. Современные солнечные батареи, например, производятся на основе многослойных полупроводниковых структур с характерной толщиной слоев 20–50 нанометров, которую необходимо контролировать с точностью в 1–2 нанометра. Когда надо решить реальную задачу, измерительное оборудование зачастую работает на пределе своей точности. А наша цель — обеспечить достоверность измерений. Заниматься у нас наукой сложно, но интересно. И мы не по всем направлениям отстаем. Сейчас разрабатывается международный стандарт на калибровочные решетки для атомно-силовой и электронной микроскопии на основе наших ГОСТов. Так что уехать надолго мне совсем не хочется, а зарубежных командировок и так хватает».